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首页> 外国专利> MEASURING PHASE NOISE IN RADIO FREQUENCY, MICROWAVE OR MILLIMETER SIGNALS BASED ON PHOTONIC DELAY

MEASURING PHASE NOISE IN RADIO FREQUENCY, MICROWAVE OR MILLIMETER SIGNALS BASED ON PHOTONIC DELAY

机译：基于光子延迟的无线电频率，微波或毫米波信号中的相位噪声测量

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摘要

Techniques and devices for measuring phase noise in radio frequency (RF), microwave, or millimeter signals based on photonic delay.
机译：用于基于光子延迟来测量射频（RF），微波或毫米波信号中的相位噪声的技术和设备。

著录项

  • 公开/公告号EP2480902A4

    专利类型

  • 公开/公告日2017-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OEWAVES INC.;

    申请/专利号EP20100819495

  • 发明设计人 ELIYAHU DANNY;MALEKI LUTE;SEIDEL DAVID;

    申请日2010-09-23

  • 分类号G01R29/26;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:07:31

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