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Noise processing type image display apparatus and image display method in multi-wavelength image measurement

机译:多波长图像测量中的噪声处理型图像显示装置和图像显示方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display apparatus which performs image processing statistically advantageous to a high-S/N area and a low-S/N area, in multiwavelength image measurement which calculates physical quantity from intensity ratios of different wavelengths and displays an obtained ratio image on a display.SOLUTION: In ratio image measurement using an image sensor, when a measurement result is displayed on a display, a square root of a square-sum of S/N ratios of measurement values for each pixel is defined as an S/N index. Display luminance on the display is weighted by using the index as a parameter, thereby allowing scientific analysis of an object by quantitative determination statistically advantageous to a high-S/N area and a low-S/N area.
机译:解决的问题:提供一种显示装置,该显示装置在多波长图像测量中执行​​统计上有利于高S / N区域和低S / N区域的图像处理,该多波长图像测量根据不同波长的强度比来计算物理量并显示解决方案:在使用图像传感器进行比率图像测量时,当在显示器上显示测量结果时,每个像素的测量值的S / N比的平方和的平方根定义为S / N索引。通过使用指数作为参数对显示器上的显示亮度进行加权,从而可以通过定量确定对高S / N区域和低S / N区域有利的定量确定来科学地分析对象。

著录项

  • 公开/公告号JP6193712B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 鎌田 祐一;

    申请/专利号JP20130207690

  • 发明设计人 鎌田 祐一;

    申请日2013-09-12

  • 分类号G01N21/27;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:54:10

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