首页> 外国专利> Magnetic flaw detection apparatus and magnetic flaw detection method

Magnetic flaw detection apparatus and magnetic flaw detection method

机译:磁探伤装置及磁探伤方法

摘要

A magnetic flaw detection apparatus and a magnetic flaw detection method according to the present invention apply a magnetic field to an object to be inspected, detect magnetism from a plurality of mutually different first detection positions from the outer surface of the object to be inspected, , And determines the position of a predetermined defect in the object to be inspected along a first direction of contacting and separating from the object to be inspected.
机译:根据本发明的磁缺陷检测装置和磁缺陷检测方法将磁场施加到被检物体,从距被检物体的外表面多个相互不同的第一检测位置检测磁,并沿着与被检查物体接触并与之分离的第一方向确定被检查物体中预定缺陷的位置。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2016080229A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 コニカミノルタ株式会社;

    申请/专利号JP20160560151

  • 发明设计人 加川 哲哉;

    申请日2015-11-09

  • 分类号G01N27/82;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:53:53

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号