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Method of performing tomographic imaging of a sample in a charged-particle microscope

机译:在带电粒子显微镜中对样品进行层析成像的方法

摘要

The invention relates to a method of performing tomographic imaging involving repeatedly directing a charged particle beam through a sample for a series of sample tilts to acquire a corresponding set of images and mathematically combining the images to construct a composite image. The latter of which consists of, at each of a second series of sample tilts, using a spectral detector to accrue a spectral map of said sample, thus acquiring a collection of spectral maps; analyzing said spectral maps to derive compositional data of the sample; and employing said compositional data in constructing said composite image.
机译:本发明涉及一种执行断层成像的方法,该方法包括针对一系列的样品倾斜重复地将带电的粒子束引导通过样品,以获取对应的图像集,并在数学上组合图像以构成合成图像。后者包括在第二系列的样品倾斜中的每一个上,使用光谱检测器来累积所述样品的光谱图,从而获得光谱图的集合;分析所述光谱图以获得样品的成分数据;在构造所述合成图像时采用所述构图数据。

著录项

  • 公开/公告号US9618460B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-04-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FEI COMPANY;

    申请/专利号US201314021886

  • 发明设计人 REMCO SCHOENMAKERS;DAVID FOORD;

    申请日2013-09-09

  • 分类号G01N23/04;G01N23/225;G06T11;H01J37/28;H01J37/244;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:47:06

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