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Connection structural member and connection structural member module, and probe card assembly and wafer testing apparatus using the same

机译:连接结构构件和连接结构构件模块,以及使用该模块的探针卡组件和晶片测试装置

摘要

An apparatus comprising: a barrel having an first hole and a second hole opposite to the first hole; a first plunger disposed in the first hole and including a hook shape; a second plunger disposed in the second hole; and an elastic connection member disposed within the barrel to connect the first plunger and the second plunger.
机译:一种设备,包括:枪管,所述枪管具有第一孔和与所述第一孔相对的第二孔。第一柱塞,其设置在第一孔中并具有钩状。设置在第二孔中的第二柱塞;弹性连接件设置在筒体内以连接第一柱塞和第二柱塞。

著录项

  • 公开/公告号US9793635B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201615175023

  • 发明设计人 JUN-HEE LEE;

    申请日2016-06-06

  • 分类号H01R13/24;G01R1/02;G01R1/073;G01R31/28;H01R12/73;H01R12/71;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:47:02

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