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Circuit design instrumentation for state visualization

机译:用于状态可视化的电路设计仪器

摘要

An integrated circuit may include observable storage circuits and unobservable or non-observable storage circuits. Among values stored in the observable and the non-observable storage circuits, only the values stored in the observable storage circuits are accessible for read-back and/or write-back operations during hardware emulation. A computer system may receive a circuit design that includes a design-under-test and implement at least a portion of the circuit design in the integrated circuit. The computer system may insert observable storage circuits into the circuit design and couple the observable storage circuits to the non-observable storage circuits such that the data stored in the non-observable storage circuits may be accessed during read-back operations using the inserted observable storage circuits.
机译:集成电路可以包括可观察的存储电路和不可观察的或不可观察的存储电路。在可观察存储电路和不可观察存储电路中存储的值中,只有存储在可观察存储电路中的值才可在硬件仿真期间进行读和/或写回操作。计算机系统可以接收包括被测设计的电路设计,并在集成电路中实现电路设计的至少一部分。计算机系统可以将可观察的存储电路插入电路设计中,并且将可观察的存储电路耦合到不可观察的存储电路,使得可以在使用插入的可观察的存储的回读操作期间访问存储在不可观察的存储电路中的数据。电路。

著录项

  • 公开/公告号US9798842B1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ALTERA CORPORATION;

    申请/专利号US201514611031

  • 发明设计人 MICHAEL HUTTON;

    申请日2015-01-30

  • 分类号G06F9/455;G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:46:05

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