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METHODS AND CIRCUITS FOR MEASURING A HIGH IMPEDANCE ELEMENT BASED ON TIME CONSTANT MEASUREMENTS.

机译:基于时间常数测量的高阻抗元素的测量方法和电路。

摘要

A method of measuring impedance includes determining a first time constant based on a known impedance and a capacitor, determining a second time constant based on a target impedance and the capacitor, and determining the target impedance based on the first time constant and the second time constant.
机译:一种测量阻抗的方法,包括:基于已知阻抗和电容器确定第一时间常数;基于目标阻抗和电容器确定第二时间常数;以及基于第一时间常数和第二时间常数确定目标阻抗。 。

著录项

  • 公开/公告号MX347311B

    专利类型

  • 公开/公告日2017-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DUST COMPANY INC.;

    申请/专利号MX20150007420

  • 发明设计人 FRANTZ FREDERICK E.;

    申请日2013-12-11

  • 分类号G01R27/26;G01N27/60;G01R27/02;

  • 国家 MX

  • 入库时间 2022-08-21 13:37:28

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