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System and method for faults diagnosis of two-level voltage inverter switches

机译：二电平逆变器开关的故障诊断系统和方法

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system for diagnosis of damage of two-tier falownika tension, characterised by the fact that it is equipped with demultiplekser (1), which is a signal corresponding to the sector number entry tension (ns) plane. - beta, which currently is blunt vector voltage of stojan us, where the output signal (s1) is demultipleksera sector 1, sector (s2) - 2, - 3 (s3) sector.(s4) - sektora4 (s5) - sector 5 and (s6) - sector 6, each step (s1), (s2), (s3), (s4), (s5), (s6) multipleksera (1) is the one of measurement systems, respectively, (2), (3), (4), (5), (6), (7) and each of the output signals of the measuring systems (2), (3), (4) ), (5), (6), (7) is one of the hits of one system sharing, respectively (8), (9), (10), (11), (12),(13), which are connected with the second entry exit block speed (14), which is the measured angular speed signal of engine. and exit systems of (8), (9), (10), (11), (12), (13) are connected to the track gauge each of transistors which constitute two sets of komparatoru00f3w, respectively (15), (16), (18), (19), (23), (24), (26), (27), (31), (32), (34), (35),(39), (40), (42), (43), (47) and (48), (50), (51), (55), (56), (58) and (59), with which both comparators in the first couple komparatoru00f3w (15), (16), (23), (24), (31), (32), (39), (40), (47) and (48), (55), (56) in the measurement of the output transistor is connected with the first arms mnou017cu0105cy me, respectively (17), (25), (33), (41), (49), (57),the way each first komparatora in second pair komparatoru00f3w (18), (23), (31), (39), (47), (55) in the measurement of the transistor is connected to one of the two latter systems in proliferation, respectively (21), (29), (37), (45) (53), (61), and the way each the second komparatora him in another couple komparatoru00f3w (19), (27), (35), (43), (51).(59) in the measurement of the transistor is connected through the absolute value measurement of the transistor circuit blocks, respectively (20), (28), (36), (44), (52), (60) to a second of the two latter systems in proliferation, respectively (21), (29), (37) (45), (53), (61), and action and the first of proliferation, respectively (17), (25), (33), (41), (49),(57) together with other systems of proliferation, respectively (21), (29), (37), (45), (53), (61) are connected to the sections size respectively (22), (30), (38), (46) and (54), (62).a diagnostic falownika transistors, characterised by the fact that in measurement systems, respectively, (2), (3), (4), (5), (6), (7) is measured while the raised voltage vector of stojan in individual sectors combined plane? - beta, and converts the measured time value proportional to the tension, after which the systems sharing, respectively (8), (9),(10), (11), (12), (13), divides the signal corresponding to the voltage vector being raised tension in the various sectors of stojan plane double? - beta by tension corresponding to signal speed, by what is normalised signal value napiu0119ciowego time (tm1), (tm2), (tm3), (tm4), (tm5), (tm6) using knowledge of measured engine speed. ,and then in the second komparatorach each pair of komparatoru00f3w in the measuring of the transistor (16), (19), (24), (27), (32), (35), (40), (43), (48), (51), (56), (59) compares the result sharing with the established threshold value voltage arbitrarily, proportional to this time, kt u00f3rej crossing indicates damage specific transistor falownika,at the same time, in the first komparatorach each pair of komparatoru00f3w (15), (18), (23), (26), (31), (34), (39), (42), (47), (50), (55), (58) compares the result of common signal reference, after results comparisons with both komparatoru00f3w each first pair are multiplied in the first block mnou017cu0105cym, respectively (17), (25), (33), (41), (49), (57),the results of comparisons of the first and second pair of komparatoru00f3w each komparatoru00f3w multiplied in other systems a proliferation, respectively (21), (29), (37), (45), (53), (61) with the signal absolute value signals with each other komparatora other couples komparatoru00f3w that obtains in the absolute value, respectively (20), (28), (36), (44) (52) (60).after the signals of the first systems proliferation (17), (25), (33), (41), (49), (57), combining with the other systems, proliferation, respectively (21), (29), (37), (45), (53), (61) czu0142onach size respectively (22), (30), (38), (46) and (54), (62), and then on the basis of non-zero it concludes by aggregation of the failure test by measuring the track of a transistor.

机译：用于诊断两层法洛尼迪克张力的损坏的系统，其特征在于它配备了解乘法器（1），这是与扇区号进入张力（ns）平面相对应的信号。 -beta，当前是stojan us的钝矢量电压，其中输出信号（s1）是多倍数乘法扇区1，扇区（s2）-2，-3（s3）扇区。（s4）-sektora4（s5）-扇区5 （s6）-扇区6，多重步骤（1）的每个步骤（s1），（s2），（s3），（s4），（s5），（s6）都是测量系统之一，（2），（3），（4），（5），（6），（7）以及测量系统（2），（3），（4）），（5），（6）的每个输出信号，（7）是一个分别共享（8），（9），（10），（11），（12），（13）的系统的命中点之一，它们与第二个入口出口挡块速度（14 ），即引擎测得的角速度信号。（8），（9），（10），（11），（12），（13）的出口系统分别连接到轨距仪，每个晶体管分别构成两组komparator （15），（16），（18），（19），（23），（24），（26），（27），（31），（32），（34），（35），（39），（40）），（42），（43），（47）和（48），（50），（51），（55），（56），（58）和（59），第一对中的两个比较器komparator u00f3w（15），（16），（23），（24），（31），（32），（39），（40），（47）和（48），（55），（56）在测量输出三极管时分别与第一臂相连，分别为（17），（25），（33），（41），（49），（57），每个第一komparatora在第二对中，在测量晶体管时，komparator（18），（23），（31），（39），（47），（55）分别与扩散的后两个系统之一连接（21 ），（29），（37），（45）（53），（61），以及第二对komparatora在另一对夫妇komparator中的方式（19），（27），（35），（43），（51）。（59）在测量晶体管时r分别通过晶体管电路块（20），（28），（36），（44），（52），（60）的绝对值测量与后两个扩散中的第二个系统的第二个连接（21），（29），（37），（45），（53），（61）以及作用和首次增殖分别是（17），（25），（33），（41），（49）），（57）和其他扩散系统分别将（21），（29），（37），（45），（53），（61）分别连接到截面尺寸（22），（30），（38），（46）和（54），（62）。一种诊断性法洛尼迪卡晶体管，其特征是在测量系统中分别有（2），（3），（4），（5），（ 6），（7）是在单个扇区组合平面中测量stojan的升高电压矢量时？ -β，并转换成与张力成比例的时间测量值，然后分别共享（8），（9），（10），（11），（12），（13）的系统将与电压矢量在stojan平面的各个扇区中的张力都增加了一倍？ -通过与信号速度相对应的张力，通过标准化的信号值napi，使用测得的发动机速度知识，将其标准化为信号时间（tm1），（tm2），（tm3），（tm4），（tm5），（tm6）。，然后在第二个komparatorach中测量晶体管（16），（19），（24），（27），（32），（35），（40），（43）中的每对komparator u00f3w ，（48），（51），（56），（59）将共享的结果与建立的阈值电压任意比较，与该时间成正比，kt u00f3rej交叉表示损坏的特定晶体管falownika，同时第一对komparatorach每对komparator u00f3w（15），（18），（23），（26），（31），（34），（39），（42），（47），（50），（55）），（58）比较公共信号参考的结果，在将两个komparator u00f3w的结果比较之后，每个第一对分别在第一个块mno u017c u0105cym中分别乘以（17），（25），（33），（ 41），（49），（57），第一对和第二对komparator的比较结果分别在其他系统中相乘（21），（29），（37），（ 45），（53），（61）与信号绝对值信号彼此komparatora其他夫妇ko在第一个系统扩散的信号（17），（25），（之后）获得绝对值的mparator u00f3w分别为（20），（28），（36），（44）（52）（60）。 33），（41），（49），（57），与其他系统结合，分别增殖（21），（29），（37），（45），（53），（61）cz u0142onach大小分别为（22），（30），（38），（46）和（54），（62），然后在非零的基础上，通过测量晶体管的走线来整合故障测试得出结论。

著录项

公开/公告号PL226655B1

专利类型
公开/公告日2017-08-31

原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WROCŁAWSKA;
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申请/专利号PL20130405657
发明设计人 PIOTR SOBAŃSKI;TERESA ORŁOWSKA-KOWALSKA;
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申请日2013-10-16
分类号G01R31/34;G01R31/26;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 13:37:06

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