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FORMATION PARAMETER RETRIEVAL USING RESISTIVITY IMAGING TOOL

机译:使用电阻率成像工具反演地层参数

摘要

Apparatus and methods are described, such as for obtaining formation parameters of a geological formation. The method includes measuring a resistivity image of the geological formation. The measured resistivity image is compared to a modelled resistivity image where the modelled resistivity image is represented by estimated formation parameters. A cost function is calculated from the measure resistivity image and the modelled resistivity image. The estimated formation parameters are adjusted to generate a set of final formation parameters that represents a modelled resistivity image having a smallest cost function.
机译:描述了诸如用于获得地质地层的地层参数的设备和方法。该方法包括测量地质构造的电阻率图像。将测得的电阻率图像与建模的电阻率图像进行比较,其中建模的电阻率图像由估算的地层参数表示。根据测量电阻率图像和建模电阻率图像计算成本函数。调整估计的地层参数以生成一组最终地层参数,这些参数代表具有最小成本函数的模拟电阻率图像。

著录项

  • 公开/公告号WO2017192124A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HALLIBURTON ENERGY SERVICES INC.;

    申请/专利号WO2016US30581

  • 发明设计人 GUNER BARIS;DONDERICI BURKAY;

    申请日2016-05-03

  • 分类号G01V1/48;G01V1/30;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 13:29:05

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