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MACHINE VISION BASED ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION SYSTEM

机译:基于机器视觉的电子组件检查系统

摘要

The present invention relates to a machine vision based electronic component inspection system. The present invention includes a housing equipped inside a selection plate, a location moving device, a camera configured to photograph the electronic component, an analysis device configured to measure the location and angle of the electronic component, a gripper device, and a control device. Accordingly, the present invention performs quality inspection.;COPYRIGHT KIPO 2016
机译:本发明涉及一种基于机器视觉的电子元件检查系统。本发明包括在选择板的内部配备的壳体,位置移动装置,被配置为拍摄电子部件的照相机,被配置为测量电子部件的位置和角度的分析装置,夹持器装置以及控制装置。因此,本发明执行质量检查。; COPYRIGHT KIPO 2016

著录项

  • 公开/公告号KR101688641B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DONGSEO TECHNOLOGY HEADQUTERS;KMSYS;

    申请/专利号KR20150134185

  • 发明设计人 PARK JUN MOKR;HYUN YOU MANKR;

    申请日2015-09-22

  • 分类号G01R31/28;G01B11/26;G01R27/26;G01R31/01;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 13:28:28

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