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Parameter setting method of measuring instrument and parameter setting program of measuring instrument

机译:测量仪器的参数设定方法及测量仪器的参数设定程序

摘要

A parameter setting method of a measuring instrument includes: reading model information, measurement-related setting items, and parameters corresponding to the setting items, which are stored in the measuring instrument, and temporarily storing the read data in a storage unit of a computer; displaying an appearance image of the measuring instrument corresponding to the model information on the screen and displaying icons for selecting an operation on the screen at predetermined positions of the appearance image on the screen in correlation with each other; displaying the setting item, which is able to be selected by an operation in the measuring instrument relevant to the predetermined position corresponding to the selected icon, on the screen when selection of the icon is received; receiving changing of the parameter corresponding to the setting item using the computer; and transmitting the changed parameter from the computer to the measuring instrument.
机译:一种测量仪器的参数设置方法,包括:读取存储在测量仪器中的模型信息,与测量有关的设置项目以及与该设置项目相对应的参数,并将读取的数据临时存储在计算机的存储单元中;以及在屏幕上显示与型号信息相对应的测量仪器的外观图像,并在屏幕上的外观图像的预定位置彼此相关地显示用于选择操作的图标。当接收到图标的选择时,在屏幕上显示设置项,该设置项能够通过测量仪器中的操作来选择,该操作与与所选择的图标相对应的预定位置有关。使用计算机接收与设置项目相对应的参数的改变;并将更改后的参数从计算机传输到测量仪器。

著录项

  • 公开/公告号JP6348021B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社ミツトヨ;

    申请/专利号JP20140176859

  • 发明设计人 辻本 康裕;木和田 健史;

    申请日2014-09-01

  • 分类号G06F3/0484;G01B21/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:08:25

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