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Whole Integrated Analysis Model Assist Device and Whole Integrated Analysis Model Assist Method

机译:整体综合分析模型辅助装置及整体综合分析模型辅助方法

摘要

Provided is a technology capable of detecting analysis accuracy and an analysis time of an analysis object system appropriately and objectively. A whole integrated analysis model assist device according to the present invention calculates an analysis prediction time and an analysis prediction accuracy when whole integrated analysis for an analysis object is performed using acquired analysis results corresponding to a plurality of analysis levels of detail of a plurality of components, and outputs the analysis prediction time and the analysis prediction accuracy corresponding to a designated combination of the analysis levels of detail of the plurality of components.
机译:提供一种能够适当且客观地检测分析对象系统的分析精度和分析时间的技术。当使用与多个部件的细节的多个分析水平相对应的获取的分析结果对分析对象进行整体分析时,根据本发明的整体分析模型辅助装置计算分析预测时间和分析预测精度。并输出与多个成分的详细分析水平的指定组合相对应的分析预测时间和分析预测精度。

著录项

  • 公开/公告号US2018089348A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号US201615562927

  • 发明设计人 NORIHIKO NONAKA;YIXIANG FENG;

    申请日2016-03-15

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:01:32

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