首页> 外国专利> CLOSED-LOOP INTERFEROMETRIC SENSOR USING LOOP GAIN FOR DETERMINING INTERFERENCE CONTRAST

CLOSED-LOOP INTERFEROMETRIC SENSOR USING LOOP GAIN FOR DETERMINING INTERFERENCE CONTRAST

机译:使用环路增益确定干扰对比度的闭环干涉仪传感器

摘要

In order to measure the contrast of interference in an interference-based, closed-loop, phase-modulating optical sensor device, the gain of the feedback loop in a feedback controller (12) is evaluated. This gain is found to be a measure for the contrast. The contrast evaluated in this way can e.g. be used for period-disambiguation when determining the measurand of the sensor device. The sensor device can e.g. be a high-voltage sensor or a current sensor.
机译:为了测量基于干涉的,闭环的,相位调制的光学传感器设备中的干涉对比,评估了反馈控制器( 12 )中的反馈环路的增益。发现该增益是对比度的量度。以这种方式评估的对比度可以例如为在确定传感器设备的被测量时,将其用于周期消歧。传感器设备可以例如可以是高压传感器或电流传感器。

著录项

  • 公开/公告号US2018066932A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ABB SCHWEIZ AG;

    申请/专利号US201715696095

  • 申请日2017-09-05

  • 分类号G01B9/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:59:24

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号