首页> 外国专利> Method to Perform Full Accuracy Hierarchical Block Level Timing Analysis with Parameterized Chip Level Contexts

Method to Perform Full Accuracy Hierarchical Block Level Timing Analysis with Parameterized Chip Level Contexts

机译:参数化芯片级上下文执行全精度分层块级时序分析的方法

摘要

A method and apparatus for on chip variation path-based pessimism reduction and improving analysis of a hierarchical integrated circuit design in an electrical circuit. The circuit has one or more block circuit levels and a top circuit level. The method in one embodiment comprises characterizing the top circuit level to produce a context function, the context function used by the block circuit level for evaluation.
机译:一种用于基于片上变化路径的悲观减少和改进电路中的分层集成电路设计的分析的方法和设备。该电路具有一个或多个块电路级和一个顶部电路级。在一个实施例中,该方法包括表征顶部电路电平以产生上下文函数,该上下文函数被块电路电平用于评估。

著录项

  • 公开/公告号US2018210986A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SYNOPSYS INC.;

    申请/专利号US201715414618

  • 发明设计人 QIUYANG WU;MARTIN RANKE;MIN LI;

    申请日2017-01-24

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:58:31

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号