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METHODS TO INTRODUCE SUB-MICROMETER, SYMMETRY-BREAKING SURFACE CORRUGATION TO SILICON SUBSTRATES TO INCREASE LIGHT TRAPPING

机译:引入亚微米级,对硅基质进行对称性破坏的表面腐蚀以增加光捕获的方法

摘要

Provided is a method for fabricating a nano-patterned surface. The method includes forming a mask on a substrate, patterning the substrate to include a plurality of symmetry-breaking surface corrugations, and removing the mask. The mask includes a pattern defined by mask material portions that cover first surface portions of the substrate and a plurality of mask space portions that expose second surface portions of the substrate, wherein the plurality of mask space portions are arranged in a lattice arrangement having a row and column, and the row is not oriented parallel to a [110] direction of the substrate. The patterning the substrate includes anisotropically removing portions of the substrate exposed by the plurality of spaces.
机译:提供了一种用于制造纳米图案表面的方法。该方法包括在基板上形成掩模,对基板进行构图以包括多个破坏对称的表面波纹,以及去除掩模。掩模包括由覆盖衬底的第一表面部分的掩模材料部分和暴露衬底的第二表面部分的多个掩模空间部分所限定的图案,其中多个掩模空间部分以具有行的格子布置布置。纵列与纵列的方向相反,并且行不平行于基板的[110]方向。图案化基板包括各向异性地去除基板的被多个空间暴露的部分。

著录项

  • 公开/公告号US2018190841A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STC.UNM;

    申请/专利号US201815904296

  • 申请日2018-02-23

  • 分类号H01L31/0236;G02B1;H01L31/20;H01L31/18;H03H9/145;H03H9/25;H03H9/10;H01L31/0747;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:56:35

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