首页> 外国专利> METHOD OF DIAGNOSIS OF INTELLECTUAL DEVELOPMENT DISORDERS, AUTISM SPECTRUM DISORDERS, EPILEPSY AND PREDISPOSITION TO THESE DISORDERS BY GENE CHIP AND/OR GENE PANEL, AS WELL AS GENE CHIP AND GENE PANEL USED IN THIS METHOD

METHOD OF DIAGNOSIS OF INTELLECTUAL DEVELOPMENT DISORDERS, AUTISM SPECTRUM DISORDERS, EPILEPSY AND PREDISPOSITION TO THESE DISORDERS BY GENE CHIP AND/OR GENE PANEL, AS WELL AS GENE CHIP AND GENE PANEL USED IN THIS METHOD

机译:基因芯片和/或基因面板以及这些方法使用的基因芯片和基因面板诊断智力发育异常,自闭症谱系疾病,癫痫和对此疾病的易感性的方法

摘要

Ovaj izum opisuje metodologiju rane genetske dijagnostike razvojnog intelektualnog poremećaj (RIP), poremećaja autističnog spektra (ASD) i epilepsije bilo kao predispozicija za navedene poremećaje ili kao već razvijeni poremećaj. Također, opisuje nove genetske biljege povezane s RIP-om i ASD-om kao i dijagnostički čip i metode genetske dijagnostike koji se na njima zasnivaju. Izum također uključuje panel gena za dijagnostiku epilepsije, odnosno cjelokupni dijagnostički sustav primjenjiv u kliničkoj dijagnostici RIP-a, ASD-a i epilepsije.
机译:本发明描述了发展性智力障碍(RIP),自闭症谱系障碍(ASD)和癫痫的早期遗传诊断的方法,其作为所述障碍的诱因或已发展为障碍。它还描述了与RIP和ASD相关的新遗传标记以及诊断芯片和基于它们的遗传诊断方法。本发明还包括一组用于诊断癫痫的基因,或适用于RIP,ASD和癫痫的临床诊断的完整诊断系统。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号