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SYSTEMS AND METHODS FOR STATISTICAL MEASUREMENT CONTROL OF SPECTROPHOTOMETRIC DATA.

机译:分光光度数据统计测量控制的系统和方法。

摘要

A computer implemented method. The method includes obtaining, using a processor, spectral reflectance data (10) from a coated surface having a target coating theron; and determining (18), using the processor, whether the data includes any outlier data points (20). The method also includes removing (22), using the processor, at least one of the outlier data points to produce final spectral reflectance data (32); and calculating (34), using the processor, a characteristic of the target coating based at least in part on the final spectral reflectance data.
机译:一种计算机实现的方法。该方法包括:使用处理器从具有目标涂层磁控管的涂层表面获得光谱反射率数据(10);使用处理器确定(18)数据是否包括任何异常数据点(20)。该方法还包括使用处理器去除(22)离群数据点中的至少一个以产生最终光谱反射率数据(32);以及使用处理器至少部分地基于最终光谱反射率数据来计算(34)目标涂层的特性。

著录项

  • 公开/公告号MX352821B

    专利类型

  • 公开/公告日2017-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PPG INDUSTRIES OHIO INC.;

    申请/专利号MX20150008787

  • 发明设计人 ALISON M. NORRIS;

    申请日2014-01-08

  • 分类号G01N21/55;G01J3/46;G01J3/50;G01N21/25;G01N21/84;G01N21/88;

  • 国家 MX

  • 入库时间 2022-08-21 12:51:01

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