机译:用于测量相对于激光束的角度微偏差,优选为机器的旋转误差的方法以及用于测量相对于激光束的角度微偏差,优选为机器的旋转误差的干涉仪
公开/公告号PL418450A1
专利类型
公开/公告日2018-02-26
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL20160418450
发明设计人 MAREK DOBOSZ;
申请日2016-08-24
分类号G01B11;G01B11/26;G01B9/02;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 12:50:21