机译:高纯度钇,高纯度钇的制备工艺,高纯度钇溅射靶,沉积有高纯度钇靶的金属栅膜,以及装有金属栅膜的半导体元件和器件
公开/公告号CA2840720C
专利类型
公开/公告日2018-02-13
原文格式PDF
申请/专利号CA20112840720
发明设计人 TAKAHATA MASAHIRO;
申请日2011-09-15
分类号C22B59/00;C22B9/02;C22C28/00;C23C14/34;C25C3/34;
国家 CA
入库时间 2022-08-21 12:48:06