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MATTER WAVE TREATMENT METHOD AND NON-INVASIVE INSPECTION APPARATUS

机译:物质波处理方法和非侵入式检查装置

摘要

A non-contact angle measuring apparatus includes a matter-wave and energy (MWE) particle source and a detector. The MWE particle source is used for generating boson or fermion particles. The detector is used for detecting a plurality peaks or valleys of an interference pattern generated by 1) the boson or fermion particles corresponding to a slit, a bump, or a hole of a first plane and 2) matter waves' wavefront-split associated with the boson or fermion particles reflected by a second plane, wherein angular locations of the plurality peaks or valleys of the interference pattern, a first distance between a joint region of the first plane and the second plane, and a second distance between the detector and the slit are used for deciding an angle between the first plane and the second plane.
机译:非接触角测量装置包括物质波和能量(MWE)粒子源和检测器。 MWE粒子源用于生成玻色子或费米子粒子。该检测器用于检测由以下情况产生的干涉图的多个峰或谷:1)与第一平面的缝隙,隆起或孔相对应的玻色子或费米子粒子;以及2)与波相关的物质波的波前分裂玻色子或费米子粒子被第二平面反射,其中干涉图案的多个峰或谷的角位置,第一平面与第二平面的接合区域之间的第一距离以及检测器与第二平面之间的第二距离狭缝用于确定第一平面和第二平面之间的角度。

著录项

  • 公开/公告号EP3436769A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KEN WENG-DAH;KAN FANG-CHI;

    申请/专利号EP20170773324

  • 发明设计人 KEN WENG-DAH;KAN FANG-CHI;

    申请日2017-03-31

  • 分类号G01B11;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:25:54

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