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Omnidirectional roughness algorithm for topographic signature analysis of lunar craters

机译:全向粗糙度算法在月球坑地形特征分析中的应用

摘要

A method executed by a computer system to construct an omnidirectional roughness (OR) map of a lunar crater based on a data set of a digital elevation model (DEM) of surface textures of the lunar crater is provided. The method includes setting a center and a first point of the data set, selecting a moving window, utilizing a one point-to-point step when the moving window slides over the DEM, calculating a morphological surface roughness (MSR) that detects a vertical roughness of the lunar crater, calculating a topographic frequency coefficient (TFC) that detects a horizontal roughness of the lunar crater, constructing the OR map, and displaying the OR map to show a surface roughness of the lunar crater.
机译:提供了一种由计算机系统执行的,基于月球陨石坑的表面纹理的数字高程模型(DEM)的数据集来构造月球陨石坑的全向粗糙度(OR)图的方法。该方法包括设置数据集的中心和第一点,选择移动窗口,在移动窗口滑过DEM时使用一个点对点的步骤,计算可检测垂直方向的形态表面粗糙度(MSR)月球陨石坑的粗糙度,计算检测月球陨石坑的水平粗糙度的地形频率系数(TFC),构建“或”图,并显示“或”图以显示月球陨石坑的表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号US10354398B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MACAU UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY;

    申请/专利号US201615367158

  • 发明设计人 ZHANCHUAN CAI;WEI CAO;

    申请日2016-12-01

  • 分类号G06K9;G06T7/40;G06K9/46;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:16:25

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