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Apparatus and methods for probing a material as a function of depth using depth-dependent second harmonic generation

机译:使用依赖于深度的二次谐波生成来探测作为深度函数的材料的设备和方法

摘要

A method for non-invasively probing at least one physics property of a solid material. In one embodiment, the method has the steps of splitting a photon beam into a first photon beam and a second photon beam, exposing the solid material to the first photon beam to generate a coherent acoustic phonon wave in the solid material at time t, and exposing the solid material to the second photon beam at a time t+Δt, where t+Δt≥t, to generate corresponding second harmonic generation signals, where from the corresponding second harmonic generation signals, the at least one physics property of the solid material is determinable.
机译:一种用于非侵入性地探测固体材料的至少一个物理性质的方法。在一个实施例中,该方法具有以下步骤:将光子束分成第一光子束和第二光子束,将固体材料暴露于第一光子束以在时间t在固体材料中产生相干声子声波,以及在时间t +Δ t,其中t +Δ t≥ t,将固体材料暴露于第二光子束,以产生相应的第二谐波产生信号,其中从相应的二次谐波产生信号,固体材料的至少一种物理性质是可确定的。

著录项

  • 公开/公告号US10371668B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VANDERBILT UNIVERSITY;

    申请/专利号US201515324100

  • 申请日2015-07-13

  • 分类号G01N29/24;G01N21/63;G01N29/04;G01N29/44;G01N21/84;G01N21/95;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:14:12

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