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METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-RESOLUTION X-RAY DETECTION FOR PHASE CONTRAST X-RAY IMAGING

机译:用于相衬X射线成像的高分辨率X射线检测的方法和系统

摘要

A phase contrast X-ray imaging system for imaging an object including an X-ray source; and an X-ray detector having a 25 micron or less pixel pitch; wherein a distance between the X-ray source and the object is less than or equal to 10 cm.
机译:一种相衬X射线成像系统,用于对包括X射线源的物体进行成像;像素间距为25微米以下的X射线检测器。其中,所述X射线源与所述物体之间的距离小于或等于10cm。

著录项

  • 公开/公告号US2019113466A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-04-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KA IMAGING INC.;

    申请/专利号US201816050354

  • 发明设计人 KARIM S. KARIM;CHRISTOPHER C. SCOTT;

    申请日2018-07-31

  • 分类号G01N23/041;A61B6;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:09:14

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