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RESISTIVE RANDOM ACCESS MEMORY (RRAM) DEVICE, WRITE VERIFY METHOD AND REVERSE WRITE VERIFY METHOD THEREOF

机译:电阻式随机存取存储器(RRAM)装置,其写入验证方法及其反向写入验证方法

摘要

This invention introduces a resistive random access memory (RRAM) device, a write verify method and a reverse write verify thereof which are capable of improving the performance of RRAM operations and improving the uniform performance for each RRAM cell. A first resistance value sensed from a RRAM cell is compared with a plurality of reference resistance values to obtain a comparison value. A set or a reset operation is performed on the RRAM cell by applying a first set or reset pulse to change the first resistance value to a second resistance value. Next, the second resistance value is compared with the comparison value to determine whether to continue the set or reset operation on the RRAM cell.
机译:本发明介绍了一种电阻式随机存取存储器(RRAM)设备,一种写验证方法及其反向写验证,它们能够改善RRAM操作的性能并改善每个RRAM单元的统一性能。将从RRAM单元感测到的第一电阻值与多个参考电阻值进行比较以获得比较值。通过施加第一置位或复位脉冲以将第一电阻值改变为第二电阻值来对RRAM单元执行置位或复位操作。接下来,将第二电阻值与比较值进行比较以确定是否继续在RRAM单元上进行设置或重置操作。

著录项

  • 公开/公告号US2019172534A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-06-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WINBOND ELECTRONICS CORP.;

    申请/专利号US201715829987

  • 发明设计人 KOYING HUANG;

    申请日2017-12-04

  • 分类号G11C13;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:05:27

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