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PEAK OFFSET CORRECTION FOR ANALYTE TEST STRIP

机译:分析物测试条的峰偏差校正

摘要

Two working electrodes 12,14 using transients 402,404 for each working electrode measured at predetermined duration offsets Tpredl and Tpred2 from peaks 408 and 410 of transient currents, / RTI
机译:使用每个工作电极的瞬态402,404的两个工作电极12,14,以预定的持续时间测量,与瞬态电流的峰值408和410偏移Tpredl和Tpred2,

著录项

  • 公开/公告号KR101956581B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 라이프스캔 스코트랜드 리미티드;

    申请/专利号KR20137034249

  • 发明设计人 맥일라트 조안;

    申请日2012-05-25

  • 分类号G01N27/403;G01N27/327;G01N33/49;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:49:00

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