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EPI-ILLUMINATION FOURIER PTYCHOGRAPHIC IMAGING FOR THICK SAMPLES

机译：厚样本的EPI照度傅里叶回波成像

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摘要

Certain aspects pertain to epi-illumination Fourier ptychographic imaging systems and methods for high resolution imaging of thick samples.
机译：某些方面涉及用于厚样品的高分辨率成像的落射照明傅里叶（Epi-illumina）傅里叶（Tourier）谱图成像系统和方法。

著录项

  • 公开/公告号EP3238135B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY;

    申请/专利号EP20150874344

  • 发明设计人 HORSTMEYER ROARKE W.;YANG CHANGHUEI;

    申请日2015-12-22

  • 分类号G06K9;G21K7;G02B27/58;G02B21;G02B21/08;G02B21/36;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:40:50

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