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A SYSTEM FOR INTERROGATING AN INTERFEROMETER, AN INTERFEROMETRIC SYSTEM AND A METHOD FOR INTERROGATING AN INTERFEROMETER

机译:用于干涉仪的系统,干涉仪系统以及用于干涉仪的方法

摘要

Disclosed herein is a system (10) for interrogating an interferometer. The system (10) comprises an optical signals generation system (14) for concurrently generating a plurality of optical signals that each have a modulation parameter that the other of the plurality of optical signals d not have. The optical signals generation system (14) is for optically coupling each of the plurality of optical signals to a plurality of optical ports (16, 18, 20) of the interferometer (12) for ingress of the plurality of optical signals into the interferometer (12). The system (10) comprises an interferometer output processing system (22). Also disclosed herein is an interferometric system and a method for interrogating an interferometer
机译:本文公开了一种用于询问干涉仪的系统(10)。系统(10)包括光信号生成系统(14),用于同时生成多个光信号,每个光信号具有多个光信号d中的另一个不具有的调制参数。光学信号产生系统(14)用于将多个光学信号中的每个光学耦合到干涉仪(12)的多个光学端口(16、18、20),以使多个光学信号进入干涉仪( 12)。系统(10)包括干涉仪输出处理系统(22)。本文还公开了一种干涉系统和用于询问干涉仪的方法。

著录项

  • 公开/公告号EP3732435A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 H NU PTY LTD;

    申请/专利号EP20180882873

  • 发明设计人 HAYWOOD JOHN HERBERT;

    申请日2018-11-30

  • 分类号G01B9/02;G01D5/353;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:40:05

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