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Error rate measuring device and error rate measuring method

机译:误码率测量装置和误码率测量方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an error rate measuring device capable of flexible state transition. An error rate measuring device (1) inputs a specific pattern defined by a high-speed serial bus standard to a device under test (W) and tests the known pattern in a state where the device under test (W) is transited to a pattern signal folding state. A signal is input, and the bit error rate of the input data received from the device under test W is measured in accordance with the input of the test signal. The display unit 5 that displays the pattern setting screen 5a for setting a specific pattern, and the pattern The control unit 6 controls the display unit 5 so that the specific pattern on the setting screen 5a is switched to the pattern edit screen 5b that can be edited in block units and displayed. [Selection diagram] Figure 1
机译:要解决的问题:提供一种能够灵活转换状态的错误率测量设备。误码率测量设备(1)将由高速串行总线标准定义的特定模式输入到被测设备(W),并在被测设备(W)转换为模式的状态下测试已知模式信号折叠状态。输入信号,并且根据测试信号的输入来测量从被测设备W接收的输入数据的误码率。显示单元5,其显示用于设置特定图案的图案设置屏幕5a,以及图案。控制单元6控制显示单元5,使得设置屏幕5a上的特定图案被切换到可以被改变的图案编辑屏幕5b。以块为单位进行编辑并显示。 [选型图]图1

著录项

  • 公开/公告号JP2020127116A

    专利类型

  • 公开/公告日2020-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 アンリツ株式会社;

    申请/专利号JP20190017995

  • 发明设计人 砂山 諒;川口 修;

    申请日2019-02-04

  • 分类号H04L29/14;H04L1;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 11:37:48

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