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Precessional spin current structure with high in-plane magnetization for MRAM

机译:用于MRAM的具有高面内磁化的进动自旋电流结构

摘要

A magnetoresistive random-access memory (MRAM) is disclosed. MRAM device has a magnetic tunnel junction stack having a significantly improved performance of the free layer in the magnetic tunnel junction structure. The MRAM device utilizes a precessional spin current (PSC) magnetic layer in conjunction with a perpendicular MTJ where the in-plane magnetization direction of the PSC magnetic layer is free to rotate. The precessional spin current magnetic layer is constructed with a material having a face centered cubic crystal structure, such as permalloy.
机译:公开了磁阻随机存取存储器(MRAM)。 MRAM器件具有磁隧道结叠层,该叠层具有显着改善的磁隧道结结构中的自由层性能。 MRAM器件利用进动自旋电流(PSC)磁性层和垂直MTJ,其中PSC磁性层的面内磁化方向自由旋转。进动自旋电流磁性层由诸如坡莫合金的具有面心立方晶体结构的材料构成。

著录项

  • 公开/公告号US10672976B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SPIN MEMORY INC.;

    申请/专利号US201715445260

  • 申请日2017-02-28

  • 分类号H01L43/08;H01L43/10;H01L43/12;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:27:58

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