首页> 外国专利> Layout Pattern Similarity Determination Based On Binary Turning Function Signatures

Layout Pattern Similarity Determination Based On Binary Turning Function Signatures

机译:基于二元车削函数签名的布局图案相似性确定

摘要

One or more binary turning function signatures for each of the layout patterns are determined. The one or more binary turning function signatures comprise binary turning function signatures for polygons in each of the layout patterns, and may further comprise binary turning function signatures for secondary polygons A binary turning function signature of a polygon is derived based on deriving a minimum binary number or a maximum binary number among variants of a binary turning function sequence number for the polygon. The variants are generated by circular bit shifting and bit sequence reversing. Similar layout patterns in the layout patterns are determined based on the one or more binary turning function signatures.
机译:确定每个布局图案的一个或多个二进制车削功能签名。一个或多个二进制车削函数签名包括用于每个布局图案中的多边形的二进制车削函数签名,并且还可以包括用于次要多边形的二进制车削函数签名。基于导出最小二进制数来得出多边形的二进制车削函数签名。或该多边形的二进制车削函数序列号的变体中的最大二进制数。通过循环移位和位序列反转来生成变量。基于一个或多个二进制车削函数签名来确定布局图案中的类似布局图案。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号