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Process and apparatus for positioning microscopic samples using a two-dimensional positioning table

机译:使用二维定位台定位显微样品的方法和设备

摘要

The method of the present invention relates to a method of positioning a sample in a microscope system, wherein the point of interest of the sample (ROI) on the sample is observed and / or processed by the microscope system and wherein the microscope system exhibits: an optical axis; movable workbench for sample collection; a storage device for storing data records describing the positions of the sample; a control device which, by means of stored data records, can control the movement of the workbench.The procedure comprises the steps of: a) holding a sample point (ROI) in the first position; b) storing a first data record describing the first position; c) storing a second data record describing the second position, the second position being connected to an independent position d) invoking the stored data records so that the work table is moved such that the sample point is held in the position described triggered by a data sentence.
机译:本发明的方法涉及在显微镜系统中放置样品的方法,其中通过显微镜系统观察和/或处理样品上的样品的关注点(ROI),并且其中,显微镜系统表现出:光轴;可移动的工作台用于样品采集;存储设备,用于存储描述样本位置的数据记录;该过程包括以下步骤:a)将采样点(ROI)保持在第一位置; a)通过存储的数据记录控制工作台的运动。 b)存储描述第一位置的第一数据记录; c)存储描述第二位置的第二数据记录,该第二位置连接到独立位置d)调用存储的数据记录,以便移动工作台,以使采样点保持在由数据触发的所述位置句子。

著录项

  • 公开/公告号CZ2019-293A3

    专利类型

  • 公开/公告日2019-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH;

    申请/专利号CZ2019-293

  • 发明设计人 JOSEF BIBERGER;

    申请日2019-05-10

  • 分类号H01J37/20;H01J37/26;H01J37/304;

  • 国家 CZ

  • 入库时间 2022-08-21 11:17:54

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