首页> 外国专利> METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ATMOSPHERIC PARAMETERS TO ESTIMATE AIR QUALITY AND CLIMATE VARIABLES

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING ATMOSPHERIC PARAMETERS TO ESTIMATE AIR QUALITY AND CLIMATE VARIABLES

机译:测量大气参数以估算空气质量和气候变量的方法和装置

摘要

The invention relates to a method and a device for measuring at least one atmospheric parameter (gas, temperature) implementing steps of acquiring spectral images in the ultraviolet and / or the visible and / or the infrared and scanning according to a tomographic principle. The spectral images are acquired using a network of optical systems (1A-1D) such as infrared cameras, and are used to estimate the air quality and / or meteorological and / or climatic parameters of a geographic area, for example an urban agglomeration.
机译:本发明涉及一种用于测量至少一个大气参数(气体,温度)的方法和装置,该方法和装置实施以下步骤:获取紫外线和/或可见光和/或红外线中的光谱图像,并根据断层摄影原理进行扫描。光谱图像是使用光学系统(1A-1D)网络(例如红外摄像头)获取的,并用于估算某个地理区域(例如城市群)的空气质量和/或气象和/或气候参数。

著录项

  • 公开/公告号FR3085207A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CENTRE NATIONAL DETUDES SPATIALES;

    申请/专利号FR1857683

  • 发明设计人 ERIC PEQUIGNOT;

    申请日2018-08-27

  • 分类号G01N33;G01W1/02;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 11:00:30

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号