首页> 外国专利> A Transmission X-Ray Microscope with an Enhanced Guiding Property

A Transmission X-Ray Microscope with an Enhanced Guiding Property

机译:具有增强的引导特性的透射X射线显微镜

摘要

The present invention relates to a transmission x-ray microscope device having a structure for improving induction properties, and specifically to a transmission x-ray microscope device for a structure for improving induction properties capable of obtaining nano-resolution images. A transmission X-ray microscope device having a structure for improving induction characteristics includes an X-ray generation module 11; A first induction unit 12 for guiding X-rays emitted from the X-ray generation module 11 to the target T; A second induction unit 13 for adjusting the photosensitive characteristics of the X-rays transmitted through the target T; And a detector module 14 that detects X-rays induced by the second induction unit 13 and generates an X-ray image.
机译:透射X射线显微镜装置技术领域本发明涉及具有用于提高感应特性的结构的透射型X射线显微镜装置,尤其涉及能够得到纳米分辨率的图像的用于改进感应特性的结构的透射型X射线显微镜装置。具有用于改善感应特性的结构的透射型X射线显微镜装置包括:X射线产生模块11;以及用于对X射线发生模块11进行检测的透射X射线显微镜装置。第一感应单元12,用于将从X射线产生模块11发射的X射线引导至目标T。第二感应单元13,用于调节透射过目标T的X射线的光敏特性;检测器模块14检测由第二感应单元13感应的X射线并生成X射线图像。

著录项

  • 公开/公告号KR1021168890000B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR1020180130331

  • 发明设计人 김형철;

    申请日2018-10-30

  • 分类号

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 10:58:31

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号