Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen eines Spoilergradienten einer MR-Anlage. Mindestens ein Shim-Parameter wird empfangen, welcher ein Shim-Magnetfeld zum Ausgleichen von BO-Magnetfeld-Inhomogenitäten in einem Messvolumen der MR-Anlage definiert. In Abhängigkeit von dem mindestens einen Shim-Parameter wird mindestens ein Spoiler-Parameter, welcher einen Spoilergradienten zum Löschen einer Transversal-Magnetisierung definiert, bestimmt. Der Spoiler-gradient wird in einer Messung der MR-Anlage zusammen mit dem Shim-Magnetfeld angelegt.
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