首页> 外国专利> APPAREIL D'ESSAI ET SYSTÈME D'ESSAI POUR SYSTÈME OPTIQUE, SYSTÈME OPTIQUE COMPRENANT UN SYSTÈME D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ESSAI D'UN SYSTÈME OPTIQUE

APPAREIL D'ESSAI ET SYSTÈME D'ESSAI POUR SYSTÈME OPTIQUE, SYSTÈME OPTIQUE COMPRENANT UN SYSTÈME D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ESSAI D'UN SYSTÈME OPTIQUE

摘要

A method for testing an optical system comprising a part to be tested shall be characterized by the following steps:- Holding a radiation exit region of the part to be tested directly against a radiation sensor- Activating a radiation source providing the part to be tested with radiation- Providing a feedback on the luminous flux registered by the radiation sensor.

著录项

  • 公开/公告号EP3677166A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.07.08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号EP19150574.2

  • 发明设计人

    申请日2019.01.07

  • 分类号

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 10:53:42

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