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SYSTÈME D'ÉVALUATION DE STRUCTURE, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE STRUCTURE ET PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE STRUCTURE

摘要

According to an embodiment, a structure evaluation system includes a plurality of sensors, a position locator, and an evaluator. The sensors detect an elastic wave generated from a structure. The position locator derives a source distribution of the elastic waves generated from the structure, caused by an impact on the structure. The evaluator evaluates a state of deterioration of the structure from characteristic parameters of the elastic waves in the source distribution.

著录项

  • 公开/公告号EP3290915B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.07.15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号EP17707455.6

  • 发明设计人

    申请日2017.03.06

  • 分类号

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 10:52:58

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