一种光学薄膜测试方法及测试设备

摘要

本发明涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。