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基于天体跟踪扫描的指向性天线角度快速标校方法

摘要

本发明涉及一种基于天体跟踪扫描的指向性天线角度快速标校方法,包括:S1.获取天线波束指向的预报方位角和预报俯仰角;S2.通过预设的时间点在所述预报方位角或所述预报俯仰角对天体目标进行扫描;S3.获取不同所述预报方位角或所述预报俯仰角下的所述天体目标的辐射噪声强度;S4.获取所述辐射噪声强度中的最大辐射噪声强度,并获取与所述最大辐射噪声强度相对应的叠加方位角或叠加俯仰角;S5.迭代重复执行步骤S2至S4,判断获取的所述叠加方位角和所述叠加俯仰角是否同时满足标校精度,若满足,则完成所述天线波束指向的方位角或俯仰角的标校。本发明的成本低,且不易受天气状况的影响,可全天侯工作。

著录项

  • 公开/公告号CN112325840B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.03.31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军63921部队;

    申请/专利号CN202011094304.0

  • 发明设计人 郭永强;张国亭;

    申请日2020.10.14

  • 分类号G01C1/00;G01R29/10;G01B7/30;

  • 代理机构北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人陆鑫;延慧

  • 地址 100094 北京市海淀区5131信箱1号

  • 入库时间 2023-04-14 18:15:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-31

    授权

    发明专利权授予

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