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一种基于RAL的OTP寄存器验证方法

摘要

本发明公开了一种基于RAL的OTP寄存器验证方法,该方法包括:步骤1:搭建基于RAL的寄存器通用验证平台;步骤2:将随机数据写入OTP器件仿真模型的数据文件中;步骤3:获取当前OTP寄存器抽象级描述文件;步骤4:基于当前寄存器抽象级描述文件,更新基于RAL的寄存器通用验证平台;步骤5:在基于RAL的寄存器通用验证平台上运行预定义的寄存器的复位值验证测试用例,验证OTP控制逻辑正确性。本发明基于寄存器抽象层的验证方法学RAL对OTP寄存器进行双重验证,不仅验证寄存器复位值与读写属性是否符合设计说明书,实现对OTP寄存器的高效验证,还验证了OTP控制逻辑的正确性。

著录项

  • 公开/公告号CN113255287B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.03.14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 珠海一微半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN202110555736.5

  • 发明设计人 张多平;常子奇;

    申请日2021.05.21

  • 分类号G06F30/398;G06F30/38;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 519000 广东省珠海市横琴新区环岛东路3000号2706

  • 入库时间 2023-04-06 21:55:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-14

    授权

    发明专利权授予

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