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实现大容量SSD在小内存机器上进行数据校验测试的方法

摘要

本发明公开一种实现大容量SSD在小内存机器上进行数据校验测试的方法,本方法包括随机写数据和数据校验两部分,随机写数据时,根据命令参数中的mode参数,决定LBA序列的存储方式,mode=1时,遇到低配置测试机器,不记录LBA序列,mode=2时,在本地文件存储LBA序列,mode=3时,在内存中通过bitmap存储LBA序列;数据校验时,生成LBA序列,根据写数据时存储LBA序列的方式,采用不同的校验方式。本发明有效应对行业内容量不断增大的SSD设备数据一致性测试需求,对测试机器的要求低,提高了测试的效率和质量,有效降低了测试成本。

著录项

  • 公开/公告号CN113157512B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.12.02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东华芯半导体有限公司;

    申请/专利号CN202110472983.9

  • 发明设计人 王璞;刘正主;李铁;段好强;

    申请日2021.04.29

  • 分类号G06F11/22;G06F11/10;

  • 代理机构济南泉城专利商标事务所;

  • 代理人赵玉凤

  • 地址 250101 山东省济南市高新区经十东路汉峪金谷A2-3第16层1601室

  • 入库时间 2022-12-29 02:03:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-02

    授权

    发明专利权授予

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