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一种探测器几何校正体模及校正方法

摘要

本发明公开了一种探测器几何校正体模及校正方法。该方法包括如下步骤:将探测器几何校正体模固定在正对探测器的位置上,获取曝光的探测器几何校正体模图像;根据探测器几何校正体模图像,获取探测器几何校正体模上各圆孔的圆心坐标;根据各圆孔的圆心坐标,校正每个探测器芯片的旋转角度,使每个探测器芯片保持相对水平,并保存为第一校正模板;根据各圆孔的圆心坐标,计算相邻探测器芯片之间的缝隙,并保存为第二校正模板;根据各圆孔的圆心坐标,计算每个探测器芯片纵向的偏移量,并保存为第三校正模板;实际采集图像时,根据各校正模版,完成图像的几何校正。本校正方法实现了对所有探测器芯片所采集的图像的几何校正。

著录项

  • 公开/公告号CN109549661B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.11.15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京纳米维景科技有限公司;

    申请/专利号CN201811635518.7

  • 发明设计人 胡艳涛;张有为;

    申请日2018.12.29

  • 分类号A61B6/03;G06T5/00;

  • 代理机构北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈曦;任佳

  • 地址 100094 北京市海淀区北清路68号院1号楼一层1-06

  • 入库时间 2022-11-28 17:57:41

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