一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法

摘要

本发明公开了一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法,S1.对被测电子系统进行敏感阈值稳定性测试；S2.设定五类基本信号，并利用五类基本信号分别对被测电子系统进行敏感阈值测试；S3.对被测电子系统进行时间相关性分析和拓展测试，判断被测电子系统的时间相关敏感类型和对应的最敏感信号；S4.对被测电子系统进行带宽相关性分析和拓展测试，判断被测电子系统的带宽相关敏感类型和对应的最敏感信号；S5.将时间相关敏感类型对应的最敏感信号与带宽相关敏感类型和对应的最敏感信号进行组合，利用组合敏感信号对被测电子系统进行测试，生成敏感阈值曲线T6。本发明能够全面考察系统边界问题，为未知环境下电子系统的电磁环境适应性判断提供依据。