一种基于Processing的电磁特性可视化方法

摘要

本发明提出了一种基于Processing的电磁特性可视化方法，用横轴表示横截面的长度，纵轴表示电磁特性的方向与大小，构建超导体横截面模型；基于Bean模型，计算超导体横截面上的磁通线密度、临界电流密度与交流损耗的空间分布；基于Processing可视化显示横截面的磁通密度分布，横截面的临界电流密度分布，交流损耗密度分布，以及交流损耗密度色彩分布。本发明计算公式简单，仿真出的图像电磁特性的变化一目了然。