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基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法

摘要

本发明公开了一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法,涉及雷达信息处理技术领域。包括:对探测区域进行网格划分,设置初始的检测门限;对待检测数据进行门限检测和点迹提取处理;将每个点迹存入对应的网格中;若目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹容量门限,则调整目标网格的检测门限,重复上述步骤直到目标网格的点迹数量小于点迹容量门限。本发明提供的自适应门限检测方法,适用于非均匀的复杂背景下的点迹数量控制,可以控制网格内点迹数量保持在恒定范围,达到点迹级恒虚警率处理效果,不仅可以兼顾杂波区虚警抑制和非杂波区弱目标检测,同时还可以避免由于大量杂波点迹过滤导致的目标漏检。

著录项

  • 公开/公告号CN113093121B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.08.02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电测量研究所;

    申请/专利号CN202110389645.9

  • 申请日2021.04.12

  • 分类号G01S7/36;G01S7/35;

  • 代理机构北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人赖定珍

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号59楼

  • 入库时间 2022-09-26 23:16:40

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