一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置

摘要

本发明公开了一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置，确定可调光衰减器的衰减程度A和待测光在光谱最大强度I时的曝光时间T，根据光谱仪在该衰减程度A和该曝光时间T下采集的待测光的光谱强度，结合衰减程度A的衰减系数，计算得到待测光的实际光谱。在本发明中，通过在光谱测量装置中设置可调光衰减器，通过设置可调光衰减器的衰减程度和设置曝光时间长短的优化组合，可以将高强度光谱进行衰减，以使得光谱仪采集的光谱在其最大探测强度内，避免出现在探测高强度光谱时CCD探测器计数饱和而导致光谱数据失真，并降低使用单个手段所产生的测量误差。本发明适合于测量强吸收样品的吸收光谱，有助于提高其吸收光谱的测量精确度。