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积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法

摘要

本发明涉及光学领域,提供积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法。积分球开口处反射比测量方法,包括:S01、获取两个半径不同、内壁反射比相同的积分球的开口面积比;S02、采用光谱光度测量装置测量两个积分球的光谱相对信号;S03、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的内壁反射比;S04、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的开口处的反射比。该种积分球开口处反射比测量方法,通过对两个积分球的光谱相对信号分别进行测量,得到由两个积分球的光谱相对信号表示的开口处的反射比,其可以降低测量过程中对于积分球表面均匀度的要求,从而提高测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110954508B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN201911304782.7

  • 申请日2019-12-17

  • 分类号G01N21/47;G01N21/25;

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴欢燕

  • 地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2022-08-23 13:49:29

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