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一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法

摘要

本发明是一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法,用于测量高温背景下的物体表面的温度。本发明涉及辐射测温技术领域,本发明提供一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置,所述装置包括高温计、辐射探测器、恒温炉、冷却腔、冷气进入管、冷气出口管、热电偶和热电偶采集卡;本发明为了更准确测量高温环境中物体表面的温度,首先利用BP网络自适应寻找发射率模型,通过预先对网络训练,使网络对于高温背景下辐射光谱数据具有高度的识别度,之后对光谱曲线进行分类进而准确地输出对应地发射率模型。确定发射率模型后,对求解温度的遗传算法进行了一定的改进。最终整套测温方法在测量高温环境中物体的温度上表现出了良好的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN112113666B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN202010895227.2

  • 申请日2020-08-31

  • 分类号G01J5/061;G01J5/53;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;

  • 代理机构哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号

  • 入库时间 2022-08-23 13:46:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    授权

    发明专利权授予

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