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一种低压转子型面理论点精密测量装置及方法

摘要

一种低压转子型面理论点精密测量装置及方法,属于低压转子型面加工技术领域。所述低压转子型面理论点精密测量装置包括基座以及设置于基座的若干个理论点测具,基座设置有V形槽和若干个安装孔,理论点测具包括套筒,套筒内设置有测量杆和弹簧,套筒的顶部设置有表夹,表夹与百分表连接,百分表的测针与弹簧的顶端固连,套筒的侧面设置有切向夹紧机构;低压转子型面理论点精密测量方法包括:S1、校表;S2、通过低压转子型面理论点精密测量装置测量低压转子型面理论点的实际值。所述低压转子型面理论点精密测量装置及方法,其直接在机床上进行测量,提高了零件的加工质量和测量准确度,实现了降本增效。

著录项

  • 公开/公告号CN112082459B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010984444.9

  • 申请日2020-09-18

  • 分类号G01B5/20;G01B5/00;G01B5/08;

  • 代理机构沈阳东大知识产权代理有限公司;

  • 代理人尚云飞

  • 地址 110043 辽宁省沈阳市大东区东塔街6号

  • 入库时间 2022-08-23 13:41:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-20

    授权

    发明专利权授予

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