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垂测信息和高频地波雷达杂波信息的对应性分析方法

摘要

本发明公开了一种垂测信息和高频地波雷达杂波信息的对应性分析方法,所述方法包括如下步骤:1)获取频高图信息和距离‑多普勒谱信息;2)对距离‑多普勒谱进行图像处理,得到只含有电离层杂波信息的距离‑多普勒谱;3)将频高图信息与图像处理后的距离‑多普勒谱分别进行数据提取,并在提取后进行归一化,得到分别由两设备信息所构成的数据向量;4)对3)得到的两数据向量,采用DTW算法进行数据比对分析,得出两数据间的最小距离或失真度,从而得到电离层垂测仪与高频地波雷达所提取的电离层信息的相关性。该方法可验证电离层垂测仪频高图中的电离层信息与高频地波雷达距离‑多普勒谱中的电离层杂波信息是否具有一定的相关性。

著录项

  • 公开/公告号CN113552563B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202110805766.7

  • 申请日2021-07-16

  • 分类号G01S13/02;G01S7/41;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 13:36:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-10

    授权

    发明专利权授予

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