首页> 中国专利> 磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备

磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备

摘要

本发明公开一种磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备。方法步骤如下:首先,在频率漂移校正模块中,利用小翻转角射频脉冲激发目标层面,采集单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号。其次,根据单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号的相位信息和采集时间,可分别算得主磁场频率漂移值。然后,根据主磁场频率漂移计算值实时调整磁共振设备的中心频率,实现主磁场频率漂移的实时校正。最后,再进行CEST成像。本发明针对磁共振CEST成像中的主磁场频率漂移问题,提出了基于采集自由感应衰减信号或非相位编码梯度回波信号的频率漂移校正模块对频率漂移进行实时校正,进而提高磁共振CEST成像的鲁棒性及可重复性。

著录项

  • 公开/公告号CN112904251B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN202110112963.0

  • 申请日2020-03-31

  • 分类号G01R33/58;

  • 代理机构杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人傅朝栋;张法高

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2022-08-23 13:33:34

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号